精密I-V測試測量探針臺系統特點 / 應用

◆ 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.，◆ 從4英寸/6英寸/8英寸可用于8英寸以內樣品測試，同軸絲杠傳動結構，線性移動，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

精密I-V測試測量探針臺系統：CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動 ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用，

探針臺系統剖析 探針臺系統分為手動探針臺與自動探針臺，以下我們主要分析手動探針臺： 探針臺用途： 手動探針臺又稱探針測試臺主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。 探針臺系統組成： 探針臺臺體+顯微鏡+探針座+探針夾具+探針+測試源表

寧波工程學院CL-6現場安裝圖                                                       青島大學CL-4現場安裝圖